合规性测试

包含芯片自身信息检测和芯片基本性能测试。芯片自身信息检测主要指是否能被正确识别到，主要包含UID，内部短路(过电流保护）颗粒容量等信息;芯片基本性能测试主要包含芯片的读写速度、功耗、原始坏块数以及可用容量等信息；

快速分级筛选

全盘进行擦写读，然后获取每个Block块的状态和参数，根据特性参数范围和筛选方案模型进行分级筛选。

剩余寿命预测

通过长时间大量的测试数据积累分析和模拟，创新性地将人工神经网络算法应用于闪存芯片的测试技术中，在非破坏性、快速的测试方式下，预测出闪存芯片特定块的剩余擦写次数，据此进行质量等级划分。对闪存芯片的可靠性进行快速质量等级分类，筛选后的同等级的颗粒进行组合贴片，可获得更为稳定的工作输出。

宽温筛选

可实现在-40℃~85℃温度区间任意恒定温度下的测试需求。通过设置高低温循环，升降温渐进、极端温度的环境，获取颗粒芯片在高低温下擦写读过程中的各项性能参数变化规律，结合主控性能，自定义筛选标准，得到符合宽温下工作要求的高规格闪存颗粒。